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J-GLOBAL ID:200903038588511106
粉粒体異物検査方法及び粉粒体異物検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
福村 直樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996090987
Publication number (International publication number):1997281048
Application date: Apr. 12, 1996
Publication date: Oct. 31, 1997
Summary:
【要約】【解決課題】 誤差なく粉粒体中の異物を検査可能な装置及び方法の提供。【解決手段】 粉粒体に接する透明部材を通して撮像手段で撮像し、得られる画像データを画像処理することを特徴とする装置及び方法。
Claim (excerpt):
透明部材に接して粉粒体を存在させ、この粉粒体の透明部材側の表面を、当該透明部材を通して、撮像手段で撮影し、該撮像手段により得られた画像データを画像処理し、当該粉粒体中の異物に対応する画像信号を検出することを特徴とする、粒体中の異物の検査方法。
IPC (2):
FI (2):
G01N 21/84 Z
, G01N 21/85 A
Patent cited by the Patent:
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