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J-GLOBAL ID：200903038736658219

基板検査方法およびその装置

Inventor： 伊藤 克則 ,  片岡 幾雄
Applicant, Patent owner： 名古屋電機工業株式会社
Agent (1)： 橘 哲男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001334147
Publication number (International publication number)：2003141509
Application date： Oct. 31, 2001
Publication date： May. 16, 2003
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】 部品をマウンタによって実装した場合、マウンタの吸着状態が不完全となり、マウンタが移動する途中で吸着されている前記部品がBGAパッケージ用のパッド上に落下し、半田付け不良が発生するといった問題があった。【解決手段】 予めサンプルプリント基板におけるICを取付ける部分を撮影した画像から特定エリアの全画素に対する色情報を基準色色テーブルとして作成しておき、同じく被検査プリント基板におけるICを取付ける部分を撮影した画像から画素単位で抽出した色情報を基準色色テーブルと比較し、その後、基準色色テーブルに含まれる色情報に一致しない画素数を予め設定した異物と判定するための画素数と比較して、前記一致しない画素数が予め設定した画素数よりも大きい画素数である場合には、前記ICを取付ける部分に異物が存在すると判定するようにしたことを特徴とする基板検査方法である。

Claim (excerpt)：

予めサンプルプリント基板におけるICを取付ける部分を撮影した画像から特定エリアの全画素に対する色情報を基準色色テーブルとして作成しておき、同じく被検査プリント基板におけるICを取付ける部分を撮影した画像から画素単位で抽出した色情報を基準色色テーブルと比較し、その後、基準色色テーブルに含まれる色情報に一致しない画素数を予め設定した異物と判定するための画素数と比較して、前記一致しない画素数が予め設定した画素数よりも大きい画素数である場合には、前記ICを取付ける部分に異物が存在すると判定するようにしたことを特徴とする基板検査方法。

IPC (3)：

G06T 1/00 305 ,  G01N 21/956 ,  H05K 13/08

FI (3)：

G06T 1/00 305 Z ,  G01N 21/956 B ,  H05K 13/08 U

F-Term (17)：

2G051AA65 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051DA07 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051ED07 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057DA01 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC25