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J-GLOBAL ID：200903038754472920

定量分析装置、定量分析方法および定量分析プログラム

Inventor： 末吉 政広 ,  川原 浩治
Applicant, Patent owner： 安川情報システム株式会社 ,  独立行政法人国立高等専門学校機構
Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007204673
Publication number (International publication number)：2009041953
Application date： Aug. 06, 2007
Publication date： Feb. 26, 2009
Summary：

【課題】蛍光顕微鏡で撮影した試料の撮影焦点が一致しているか否かをリアルタイムに判定し、特定物質を高感度で定量分析する定量分析装置を提供する。【解決手段】蛍光染色した特定物質を含む試料に励起光を照射して撮影した試料の蛍光状態の画像をフレーム画像データとして記憶する画像情報記憶部22と、フレーム画像データの各画素の明るさについて度数分布を求め、度数分布についての尖度を算出する尖度算出部23と、尖度の値が所定の範囲にない場合に画像情報記憶部22に記憶されたフレーム画像データを棄却する画像棄却処理部24と、尖度の値が所定の範囲にある場合にフレーム画像データの明るさを積算して明度積算値を算出する蛍光強度積算処理部25と、特定物質の所定の定量値と明度積算値との対応関係を示す定量値算出用情報を参照して、算出された明度積算値に対応する定量値を算出する定量結果算出部27と、を備える。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

蛍光染色した特定物質を含む試料に励起光を照射して撮影した前記試料の蛍光状態の画像を取得する画像情報取得手段と、 前記画像をフレーム画像データとして記憶する画像情報記憶手段と、 前記フレーム画像データの各画素の明るさについて度数分布を求め、前記度数分布についての尖度を算出する尖度算出手段と、 前記尖度の値が所定の範囲にない場合に、前記画像情報記憶手段に記憶された前記フレーム画像データを棄却する画像棄却処理手段と、 前記尖度の値が所定の範囲にある場合に、前記フレーム画像データの明るさを積算して明度積算値を算出する蛍光強度積算処理手段と、 前記特定物質の所定の定量値と前記明度積算値との対応関係を示す定量値算出用情報を参照して、前記蛍光強度積算処理手段で算出された前記明度積算値に対応する定量値を算出する定量結果算出手段と、 を備えることを特徴とする定量分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/78

FI (3)：

G01N21/64 E ,  G01N21/64 F ,  G01N21/78 C

F-Term (27)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043DA01 ,  2G043DA02 ,  2G043FA01 ,  2G043HA01 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043MA04 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2G054AA08 ,  2G054AB04 ,  2G054BB08 ,  2G054CA23 ,  2G054CE02 ,  2G054EA03 ,  2G054FA17 ,  2G054FA33 ,  2G054JA01 ,  2G054JA02 ,  2G054JA05 ,  2G054JA08 ,  2G054JA10 ,  2G054JA11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特許第2947305号公報(特に、段落[0017]、第1図および第2図)
  
• 定量分析装置、定量分析方法および定量分析プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-043020   Applicant：安川情報システム株式会社