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J-GLOBAL ID：200903038767585856

温度測定方法及び光ファイバセンサ

Inventor：
坂部 至

About 坂部 至

, 
笹岡 英資

About 笹岡 英資


Applicant, Patent owner：
住友電気工業株式会社

About 住友電気工業株式会社


Agent (2)： 佐野 健一郎 ,  高野 明近
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007001423
Publication number (International publication number)：2008170182
Application date： Jan. 09, 2007
Publication date： Jul. 24, 2008
Summary：
【課題】光ファイバ心線中でのブリルアン周波数シフト量の変化により被測定物の温度を測定する際に、光ファイバ心線に生じる歪みの影響の低減と、位置精度の向上とをそれぞれ可能とした温度測定方法を提供する。【解決手段】光ファイバセンサ10は、薄膜コーティングが施された1本の光ファイバ心線11と、光ファイバ心線11をルース状に収容したルースチューブ13とから構成される。被測定物8の温度測定時に、ルースチューブ13を被測定物8に設置し、光ファイバ心線11中でのブリルアン周波数シフト量の変化により被測定物8の温度を測定する。光ファイバ心線11の少なくとも1箇所は、ルースチューブ13の任意の1点に対し、相対的位置が固定される。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
光ファイバセンサ中の光ファイバで発生するブリルアン散乱に起因するブルリアンゲインスペクトルのスペクトル形状と周波数シフト量の少なくとも一つにより光ファイバの長手方向の温度分布を測定する温度測定方法であって、 前記光ファイバは、薄膜コーティングが施された光ファイバ心線であり、該光ファイバ心線がチューブ内にルース状に収容され保護された状態で、被測定物に対して配置されることを特徴とする温度測定方法。
IPC (5)：
G01K 11/12 ,  G01M 11/00 ,  G01D 5/353 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/16
FI (5)：
G01K11/12 F ,  G01M11/00 U ,  G01D5/26 D ,  G01B11/00 A ,  G01B11/16 Z
F-Term (25)：
2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F065AA02 ,  2F065CC23 ,  2F065DD03 ,  2F065DD11 ,  2F065FF41 ,  2F065GG06 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL02 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ44 ,  2F065UU03 ,  2F103BA10 ,  2F103BA37 ,  2F103EB02 ,  2F103EB12 ,  2F103EB19 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2F103FA02 ,  2F103FA15 ,  2F103GA11 ,  2F103GA12 ,  2G086DD04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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