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J-GLOBAL ID：200903038861182790

特性値予測装置及び特性値予測方法

Inventor： 上田 太一郎 ,  西村 智
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 高田 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993241697
Publication number (International publication number)：1995093284
Application date： Sep. 28, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 各種装置から得られる特性値(収量、反応量など)に影響を与える要因(温度、触媒量、引っ張り強度、圧力など)から最適モデル式を作成し、各要因の値を与え特性値を予測する装置を提供する。【構成】 特性値と特性値に影響を与える要因を入力し残差の分散から求められる正規分布モデルの適性度を示す基準値を計算し、要因個数を1個とした場合の中で基準値が最大値となる変数を決め、上記変数を基に次の要因個数を2個とした場合の中で基準値を求め、この基準値増加が5%以上かチェックし、以下同様に個数を1個づつ増加させ、最適モデル式を作成することにより、各要因の値を与えることで特性値を予測する。

Claim (excerpt)：

以下の要素を有する特性値予測装置(a)回帰分析に用いる回帰式の目的変数に対応した特性値と説明変数に対応した要因データを入力する手段、(b)上記入力手段により入力した特性値と要因データから説明変数の組み合せ毎に回帰式を求め、求めた回帰式から得られる予測特性値と上記入力手段により入力した特性値との差を残差とし、この残差を用いて説明変数の組み合せを選択する変数選択手段、(c)上記変数選択手段により選択した説明変数の組み合せを用いてモデル式を作成するモデル式作成手段、(d)上記モデル式作成手段により作成されたモデル式を用いて、特性値を予測する特性値予測手段。