三次元形状の測定方法および装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994063236
Publication number (International publication number)：1995270140
Application date： Mar. 31, 1994
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】本発明は、水平方向に視差の少ない被測定物体においても、その三次元形状を精度よくしかも高速に測定することを最も主要な目的としている。【構成】本発明は、被測定物体の撮像方向に対して垂直な平面上に位置する円等の幾何学パタ-ンの周上に沿って配置した複数の撮像手段を周上に回転させて入力した視差画像列を用い、これらの視差画像から視差画像間の対応点決定処理を簡便にするための平面画像を、各視差画像からデ-タ変換することによって生成し、この変換画像において幾何学パタ-ンの周上のデ-タの分散を求めることによって対応点決定を行なうことを特徴としている。

Claim (excerpt)：

被測定物体の視差画像を複数の撮像手段により取り込み、当該視差画像列に基づいて前記被測定物体の三次元形状を測定する方法において、前記被測定物体に対して前記複数の撮像手段を、前記被測定物体の撮像方向に対して垂直な平面上に位置する幾何学パタ-ンの周上に沿って配置するようにしたことを特徴とする三次元形状の測定方法。

IPC (3)：

G01B 11/24 , G06T 7/00 , G06T 1/00

FI (2)：

G06F 15/62 415 , G06F 15/64 M

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

画像監視装置とその使用方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-164133 Applicant：住友電気工業株式会社, 東京電力株式会社
特開昭61-066108

Return to Previous Page