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J-GLOBAL ID:200903038942557666

円柱体の超音波探傷方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高矢 諭 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998128911
Publication number (International publication number):1999326289
Application date: May. 12, 1998
Publication date: Nov. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】 圧延ロールやローラ等の金属の円柱体の表面や表面直下に存在する割れ等の欠陥を表面波により検出する際に、円柱体全面を均一な感度で、しかも短時間で能率良く探傷できるようにする。【解決手段】 表面波を用いた超音波探傷用プローブ20をリニアアレイ化し、リニアアレイ化した各素子22iにおいて同時に送信及び受信を行うことにより、超音波ビームを広くし、検査能率を向上させる。
Claim (excerpt):
回転する円柱体の表面に、接触媒質を介して表面波を送受信する表面波プローブを接触させ、該表面波プローブから円柱体に対して、その回転方向と逆方向に表面波を伝播させると共に、円柱体表面や表面直下に存在する欠陥からの反射波を受信することにより、該欠陥を検出する円柱体の超音波探傷方法であって、前記表面波プローブとして、複数の超音波振動子を並べて構成されたリニアアレイ型プローブを用いることを特徴とする円柱体の超音波探傷方法。
IPC (2):
G01N 29/10 504 ,  G01N 29/24 502
FI (2):
G01N 29/10 504 ,  G01N 29/24 502
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 円柱体表層部の超音波探傷用探触子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-113127   Applicant:日立金属株式会社
  • 特開平4-314000
  • 特開昭59-065253
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