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J-GLOBAL ID：200903038953305316
微量揮発ガス成分分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 勝利
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999037938
Publication number (International publication number)：2000234990
Application date： Feb. 17, 1999
Publication date： Aug. 29, 2000
Summary：
【要約】【課題】 少量の試料を用い、短時間に、試料中に含まれるガス成分、固体成分から加熱により発生するガスなどを定性分析、定量分析可能な装置を提供すること。【解決手段】 試料容器に設置された電磁誘導発熱性金属体の電磁誘導加熱により、試料容器内の試料からガスを発生させ、該ガスを検知管に送気することにより、定性分析もしくは定量分析を行なうことができる構造となっている微量揮発ガス分析装置。
Claim (excerpt)：
(1)(a)下端を封管した非磁性体物質製のチューブ状物と、(b)該チューブ状物の上端に、該チューブ状物を密封する栓であって、該栓の中央部に該チューブ状物の内部に通ずる2本の細管が固定された密封する栓とを備えたガス発生容器であって、(b-1)該栓に固定された2本の細管のうちの一方の細管は、その反対側の先端に、ガス検知管を設置できる状態となるようになっていること、(b-2)該栓に固定された2本の細管のうちのもう一方の細管には、その反対側から任意の気体を流入できるように加工されている細管を有することを特徴とするガス発生容器、(2)該ガス発生容器中に挿入可能な試料容器であって、該試料容器は、その外周部もしくは内部に電磁誘導発熱性金属体を設置した非磁性体物質製の試料容器からなるガス発生部、(3)電源回路及び高周波発生回路、及び(4)電磁誘導コイルにより、電磁誘導発熱性金属体に電磁誘導加熱を起こさせる高周波加熱部を有する装置であって、該試料容器に設置された電磁誘導発熱性金属体の電磁誘導加熱により、試料容器内の試料からガスを発生させ、該ガスを検知管に送気することにより、定性分析もしくは定量分析を行なうことができる構造となっていることを特徴とする微量揮発ガス分析装置。
IPC (2)：
FI (2)：
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