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J-GLOBAL ID:200903039039767022
超音波探傷装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
矢葺 知之 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992136605
Publication number (International publication number):1993333000
Application date: May. 28, 1992
Publication date: Dec. 17, 1993
Summary:
【要約】【目的】 欠陥からの多重反射エコーにより鋼材の表面近傍に存在する微小欠陥を確実に検出し、探傷結果の定量的評価が可能となる。【構成】 液中に浸漬された被検査材に相対させて超音波を送受信する高周波数集束型探触子と、一定ピッチで方形走査するためのスキャナーと、スキャナーを駆動するためのモーターと、高周波数集束型探触子からの信号を受ける超音波探傷器と、モーターへの動作指示と欠陥信号の演算処理および作図処理をするマイクロコンピュータと、マイクロコンピュータからの処理結果を一括表示する出力装置と、前記データを保存する記憶装置で構成されている。【効果】 表面近傍に存在する微小欠陥を確実に検出でき、各欠陥の定量的評価が可能であり、被検査材全体の欠陥分布情報が得られ、品質評価精度が向上する。
Claim (excerpt):
液中に浸漬された被検査材に相対させて超音波を送受信する高周波数集束型探触子(1)と、被検査材の表面上をX・Y方向に一定ピッチで方形走査するためのX・Yスキャナー(10)と、X・Yスキャナー(10)を駆動するためのモーター(15)と、高周波数集束型探触子(1)からの信号を受ける超音波探傷器(5)と、モーター(15)への動作指示と欠陥信号の演算処理および作図処理をするマイクロコンピュータ(14)と、マイクロコンピュータ(14)からの処理結果を表示する出力装置(16)と、前記データを保存する記憶装置(17)で構成されていることを特徴とする超音波探傷装置。
IPC (2):
G01N 29/04 503
, G01N 29/10 501
Patent cited by the Patent:
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