Pat
J-GLOBAL ID:200903039040573223
X線診断装置
Inventor:
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
波多野 久 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992012174
Publication number (International publication number):1993200019
Application date: Jan. 27, 1992
Publication date: Aug. 10, 1993
Summary:
【要約】【目的】設置スペースが小さく迅速な診断が可能なX線診断装置を提供する。【構成】本発明のX線診断装置は、撮像手段32と画像処理手段33と制御手段34とを本体21に設け、X線照射部27と入出力手段28と画像処理条件およびX線照射条件を自動設定する条件設定波発生器29とを可動部22に設け、本体21と可動部22とを電気的に接続可能に構成し、条件設定波検出器30を少なくとも本体21に設けておき、条件設定波発生器29から発振された条件設定波を条件設定波検出器30で受信し、受信した信号を用いてX線照射条件および画像処理条件を制御手段34で評価し、X線照射条件に従ってX線照射部27からX線を被検体23に照射し、被検体23を透過したX線を撮像手段32で映像信号に変換し、画像処理条件に従って画像処理手段33で画像処理し、画像処理された映像信号を入出力手段28に送って表示するよう構成する。
Claim (excerpt):
撮像手段と画像処理手段と制御手段とを本体に設け、X線照射部と入出力手段と画像処理条件およびX線照射条件を自動設定するための条件設定波発生器とを可動部に設け、前記本体と前記可動部とを電気的に接続可能に構成し、さらに条件設定波検出器を少なくとも前記本体に設けておき、前記条件設定波発生器から発振された条件設定波を前記条件設定波検出器で受信し、受信した信号を用いてX線照射条件および画像処理条件を前記制御手段で評価し、前記X線照射条件に従って前記X線照射部からX線を被検体に照射し、照射されたX線のうち、被検体を透過したX線を、前記撮像手段で映像信号に変換し、変換された映像信号を前記画像処理条件に従って前記画像処理手段で画像処理し、画像処理された映像信号を前記入出力手段に送ってX線透視画像として表示するように構成したことを特徴とするX線診断装置。
Return to Previous Page