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J-GLOBAL ID：200903039114674833

プラント異常監視装置および異常発生箇所同定方法

Inventor： 廣瀬 行徳 ,  園田 幸夫 ,  鵜原 義彦 ,  山本 博樹
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三谷 惠 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999018081
Publication number (International publication number)：2000214924
Application date： Jan. 27, 1999
Publication date： Aug. 04, 2000
Summary：

【要約】【課題】 プラントの各プロセス状態値の定性的な変化をその伝播関係に関する知識データベースと照合し、長期にわたり徐々に変化する異常事象についても異常発生箇所を容易に同定すること。【解決手段】 プラント異常監視装置はプラント内の各機器のプロセス値を測定するプラント状態計測装置11と、プロセス状態信号を数値信号に変換し、プラント状態データとして時系列に保存するデータ収集装置12と、各プロセス状態値の長期にわたる定性的な特徴に関する知識を格納したデータベースに基づいて異常発生箇所を固定する異常診断装置13と、得られた診断結果をイラストおよび図表化して表示する表示装置14とを備える。

Claim (excerpt)：

プラント内の各機器のプロセス状態値を測定するプラント状態計測装置と、与えられるプロセス状態信号を数値信号に変換し、プラント状態データとして時系列に保存するデータ収集装置と、各プロセス状態値の長期にわたる定性的な特徴に関する知識を格納したデータベースに基づいて異常発生箇所を同定する異常診断装置と、得られた診断結果をイラストおよび図表化して表示する表示装置とを備えてなるプラント異常監視装置。

IPC (2)：

G05B 23/02 302 ,  G21C 17/00

FI (2)：

G05B 23/02 302 S ,  G21C 17/00 P

F-Term (25)：

2G075AA01 ,  2G075BA03 ,  2G075CA02 ,  2G075DA04 ,  2G075DA05 ,  2G075EA05 ,  2G075FB07 ,  2G075FB09 ,  2G075FB13 ,  2G075FB16 ,  2G075FC05 ,  2G075FD01 ,  2G075FD09 ,  2G075GA34 ,  5H223AA02 ,  5H223BB01 ,  5H223EE06 ,  5H223FF06 ,  9A001BB06 ,  9A001HH03 ,  9A001JJ01 ,  9A001KK37 ,  9A001KK54 ,  9A001LL05 ,  9A001LL09