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J-GLOBAL ID：200903039145442230

計測器の異常検知装置

Inventor： 平林 和也 ,  金谷 利憲
Applicant, Patent owner： 株式会社安川電機
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994031936
Publication number (International publication number)：1995219623
Application date： Feb. 02, 1994
Publication date： Aug. 18, 1995
Summary：

【要約】【構成】 プラントシステムに設置し、システムの状態を計測する計測器の異常を検知する計測器の異常検知装置において、システムの状態を計測器で計測した計測値を記憶する計測値蓄積装置18と、計測値蓄積装置の計測値を用いて多次元自己回帰モデルを作成する自己回帰モデル作成装置19と、自己回帰モデル作成装置の多次元自己回帰モデルと計測値蓄積装置の計測値から計測器の予測値を演算する予測値演算装置20と、予測値演算装置で演算した予測値と計測値蓄積装置の計測値とを比較して計測器の異常を検知するようにしている。【効果】 診断対象とする計測値とその計測値に影響を及ぼすデータ群を多次元自己回帰モデルを用いることにより統計的に関連づけることができ、計測器の異常検知の精度が向上する。

Claim (excerpt)：

プラントシステムに設置し、システムの状態を計測する計測器の異常を検知する計測器の異常検知装置において、システムの状態を計測器で計測した計測値を記憶する計測値蓄積装置と、計測値蓄積装置の計測値を用いて多次元自己回帰モデルを作成する自己回帰モデル作成装置と、自己回帰モデル作成装置の多次元自己回帰モデルと計測値蓄積装置の計測値から計測器の予測値を演算する予測値演算装置と、予測値演算装置で演算した予測値と計測値蓄積装置の計測値とを比較して計測器の異常を検知する演算装置を設けたことを特徴とする計測器の異常検知装置。

IPC (2)：

G05B 23/02 ,  G05B 23/02 302

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭59-049611
  
• 微小放射線漏れ検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-178896   Applicant：三菱電機株式会社