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J-GLOBAL ID：200903039157034080

放射線計測装置およびそれを用いた分析装置

Inventor：
師岡 利光

About 師岡 利光

, 
田中 啓一

About 田中 啓一

, 
永田 篤士

About 永田 篤士


Applicant, Patent owner：
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

About エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社


Agent (1)： 松下 義治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003160800
Publication number (International publication number)：2004361275
Application date： Jun. 05, 2003
Publication date： Dec. 24, 2004
Summary：
【課題】放射線を照射することなしに検出素子の調整や感度校正を行なうことを可能にする放射線計測装置および分析装置を提供すること。【解決手段】放射線6のエネルギーを温度変化として検出するカロリメータ1と温度センサに駆動電力を供給するためのバイアス電力供給手段2と温度センサの信号を読み出すための信号読み出し手段9からなる駆動装置で構成される放射線計測装置において、調整用パルス印加手段7を付加し、カロリメータ1に熱パルスを供給する構成とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
放射線を吸収し熱に変換する吸収体と温度センサからなり、エネルギーを温度変化として検出するカロリメータと、 前記温度センサに駆動するバイアス電力を供給するバイアス電力供給手段と、 前記温度センサで発生した信号を読み出すための信号読み出し手段からなる駆動装置とで構成される放射線計測装置において、 前記温度センサの感度を測定し動作点を調整するための調整用パルス印加手段を付加し、印加パルス信号を前記バイアス電力供給手段の出力に加算することにより、前記カロリメータに熱を印加することを特徴とする放射線計測装置。
IPC (6)：
G01T1/26 ,  G01N23/225 ,  G01T1/12 ,  G01T1/24 ,  G01T7/00 ,  H01L39/22
FI (6)：
G01T1/26 ,  G01N23/225 ,  G01T1/12 ,  G01T1/24 ,  G01T7/00 C ,  H01L39/22 D
F-Term (22)：
2G001AA03 ,  2G001BA05 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA10 ,  2G001GA01 ,  2G001GA11 ,  2G001GA16 ,  2G001KA01 ,  2G001PA07 ,  2G088EE30 ,  2G088FF02 ,  2G088FF03 ,  2G088FF15 ,  2G088GG22 ,  2G088GG30 ,  2G088KK01 ,  2G088KK40 ,  2G088LL27 ,  4M113AC08 ,  4M113AC24 ,  4M113AC33
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 炉心内計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-259539   Applicant：株式会社東芝
  • カロリーメータ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-165313   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
  • 超伝導放射線検出器
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-102354   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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