パケット交換試験方法及びその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：遠山勉 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993233959
Publication number (International publication number)：1995095236
Application date： Sep. 20, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】複数の被試験装置を1つの試験装置で同時に試験可能とする。【構成】パケット手段21は連続的なランダムパターンの夫々にパケットヘッダを付加することによりパケットデータを生成し、ハイウェイ分離手段22は生成された各パケットデータを複数の入力ハイウェイに分離する。パケット多重手段32は複数の出力ハイウェイから供給される各パケットデータを1つのハイウェイに多重化し、デパケット手段31はパケット多重手段32により多重化された各パケットデータの中からランダムパターンを取り出し、誤り検出手段7はデパケット手段31により取り出されたランダムパターンの誤りを検出することで被試験装置6の試験を行うよう構成した。

Claim (excerpt)：

パケット交換を行う被試験装置(6)に複数の入力ハイウェイ及び複数の出力ハイウェイを接続して被試験装置(6)の動作試験を行うパケット交換試験方法であって、パケットデータを被試験装置(6)に送信する送信ステップと、被試験装置(6)により試験されたパケットデータを受信する受信ステップとを含み、前記送信ステップは、連続的なランダムパターンの夫々にパケットヘッダを付加することにより前記パケットデータを生成するパケットステップと、このパケットステップにより生成された各パケットデータを前記複数の入力ハイウェイに分離するハイウェイ分離ステップとを含み、前記受信ステップは、前記複数の出力ハイウェイから供給される各パケットデータを1つのハイウェイに多重化するパケット多重ステップと、このパケット多重ステップにより多重化された各パケットデータの中からランダムパターンを取り出すデパケットステップと、このデパケットステップで取り出されたランダムパターンの誤りを検出する誤り検出ステップとを含むことを特徴とするパケット交換試験方法。

IPC (3)：

H04L 12/56 , H04L 12/26 , H04M 3/26

FI (2)：

H04L 11/20 102 Z , H04L 11/12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

特開平4-284754
ATM試験方式
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-358098 Applicant：日本電信電話株式会社

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