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J-GLOBAL ID：200903039209625457

赤外線ガス分析計

Inventor： 角 心吾 ,  松久 浩明 ,  中森 明興 ,  荒谷 克彦
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992358300
Publication number (International publication number)：1994201583
Application date： Dec. 25, 1992
Publication date： Jul. 19, 1994
Summary：

【要約】【目的】 分析計が未校正であっても厳格な校正を行なうことなくガス濃度を測定できるようにする。【構成】 予めメモリ28にb=(M0-MS)/M0 (M0,MSは、それぞれゼロガス導入時、濃度aのスパンガス導入時の試料セルに対する検出値)の値を格納しておき、MPU26が、試料ガス導入時の比較セル11及び試料セル12に対する検出値M,Rを取り込み、C=a・(M0・R-M・R0)/(b・M0・R)より、試料ガス濃度Cを求める。

Claim (excerpt)：

試料セル及び比較セルに交互に赤外光を投射し、試料セルの透過光と比較セルの透過光を単一の検出器に交互に導入し、その強度を検出する赤外線ガス分析計において、所定濃度aのスパンガスを導入した時の試料セルの透過光強度の検出値のゼロガス導入時に対する減少率b=(M0-MS)/M0M0:ゼロガス導入時の試料セルの透過光強度の検出値MS:スパンガス導入時の試料セルの透過光強度の検出値及び該所定濃度aの値を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された値aとbとを用いて次式により試料ガス濃度Cを算出する演算手段と、を備えたことを特徴とする赤外線ガス分析計。C=a・(M0・R-M・R0)/(b・M0・R)ただし、M :試料ガス導入時の試料セルの透過光強度の検出値R :試料ガス導入時の比較セルの透過光強度の検出値R0:ゼロガス導入時の比較セルの透過光強度の検出値である。

IPC (2)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/35