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J-GLOBAL ID：200903039362785773

ダウンホールにおいて流体の圧縮率を光学的に測定する為の方法、及び装置

Inventor： アンドリュー、ロリス、カークジアン ,  オリバー、シー.マリンズ ,  ロビン、マクゴーワン ,  トーマス、ディステンファーノ ,  イアン、トラボレー
Applicant, Patent owner： シュランベルジェ、ホールディング、リミテッド
Agent (1)： 吉武 賢次 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001338011
Publication number (International publication number)：2002220989
Application date： Nov. 02, 2001
Publication date： Aug. 09, 2002
Summary：

【要約】ダウンホールにおいて試錐孔装置を用いてサンプルを得、二つの異なる圧力下でそのサンプルを近赤外線照射に付し、6,000cm-1及び/もしくはその付近、並びに/又は5,800cm-1及び/もしくはその付近(それぞれ、メタンの吸収ピークと粗オイルの吸収ピーク)にあるピークのスペクトル吸収量の測定を行って、ダウンホールにおける累層炭化水素サンプルの圧縮率を求める。サンプルの圧縮率を、ピーク面積の変化と、圧力の変化と、測定したピーク面積そのものとから求める。本発明の好ましい態様によれば、測定間で、圧力を一平方インチ当たり少なくとも2000ポンド(psi)、好ましくは4000psi以上変える。

Claim (excerpt)：

累層中の炭化水素系流体の圧縮率をダウンホールにおいて測定する為の試錐孔装置であって、a)試験領域と、b)累層流体を前記試験領域に導入する為の導管と、c)前記試験領域中の流体にかかっている圧力を測定する手段と、d)前記試験領域中の流体にかかっている圧力を変える手段と、e)少なくとも近赤外線を前記試験領域中に放射する光源と、f)前記試験領域と光学的に連結しているスペクトル検出器と、g)前記スペクトル検出器と前記圧力測定手段とに連結している処理手段とを備え、前記処理手段が、前記圧力測定手段により得られる少なくとも二つの測定値から求められる圧力変化の関数として、また前記スペクトル検出器により得られる測定値の関数として、炭化水素系流体の圧縮率を求めることを特徴とする装置。

IPC (4)：

E21B 47/00 ,  E21B 47/01 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/35

FI (3)：

G01N 21/27 Z ,  G01N 21/35 Z ,  E21B 47/00

F-Term (23)：

2G059AA01 ,  2G059AA03 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059CC13 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ24 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10