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J-GLOBAL ID：200903039382026623
表面疵自動探傷装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
秋沢 政光 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994150578
Publication number (International publication number)：1995333197
Application date： Jun. 09, 1994
Publication date： Dec. 22, 1995
Summary：
【要約】【目的】 磁化した鋼材の表面に磁粉液を付着させてカメラにより撮影し、疵画像データを解析して鋼材の表面疵を自動探傷する表面疵自動探傷装置に関し、誤検出の少ない疵検出と信号処理の高速化を可能とする。【構成】 画像一次判定処理部4と画像二次判定処理部5と画像三次判定処理部6とからなる表面疵自動探傷装置である。画像一次判定処理部4では、撮影画像を輝度2値化判定して疵候補部を抽出し、該疵候補部について輝度と形状との特徴量から明瞭な疵か否かを分類し、明瞭なものを疵とし不明瞭なものを再び疵候補部として画像抽出する。画像二次判定処理部5では、画像一次判定処理部4で抽出した疵候補部の統計的特徴量を演算する。画像三次判定処理部6では、画像二次判定処理部5で演算した疵候補部の統計的特徴量を入力量としてニューラルネットワークモデルにより疵の有無を判定する。
Claim (excerpt)：
鋼材の表層部を磁化し磁粉液を散布し疵磁粉模様を形成した該鋼材の表面をカメラで撮影し、撮影画像を画像処理することにより疵の有無判定を行う表面疵自動探傷装置において、撮影画像を輝度2値化判定して疵候補部の抽出を行い、該疵候補部において輝度と形状との特徴量から明瞭な疵か否かの分類を行い、明瞭なものを疵とし不明瞭なものを再び疵候補部として画像抽出する画像一次判定処理部と、該画像一次判定処理部で抽出した疵候補部の統計的特徴量を演算する画像二次判定処理部と、該画像二次判定処理部で演算した疵候補部の統計的特徴量を入力量としてニューラルネットワークモデルによる疵の有無判定を行う画像三次判定処理部とからなることを特徴とする表面疵自動探傷装置。
IPC (2)：
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