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J-GLOBAL ID：200903039405468050
角膜厚さ測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西脇 民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991310401
Publication number (International publication number)：1993146409
Application date： Nov. 26, 1991
Publication date： Jun. 15, 1993
Summary：
【要約】【目的】 個人差による測定誤差の解消を図ると共に測定精度の向上を図ることのできる角膜厚さ測定装置を提供することを目的とする。【構成】 角膜厚さ測定装置は、被検眼Eの光軸O3に対して斜め方向から照明光を角膜15に向けて照射する照明光学系17と、角膜15の表面30からの反射光束と裏面31からの反射光束とを受光する受光光学系22とを備え、照明光学系17の光軸と受光光学系22の光軸とは被検眼の光軸に対してほぼ左右対称位置に配置され、受光光学系22には各反射光束の結像位置に微小光電素子列からなる光電変換素子が設けられ、光電変換素子は表面30からの反射光束による光電変換信号と裏面31からの反射光束による光電変換信号とに基づき角膜15の厚さを計測する計測回路35に接続されている。
Claim (excerpt)：
被検眼の光軸に対して斜め方向から照明光を角膜に向けて照射する照明光学系と、前記角膜の表面から反射された反射光束と前記角膜の裏面から反射された反射光束とを受光する受光光学系とを備え、前記照明光学系の光軸と前記受光光学系の光軸とは、前記被検眼の光軸に対してほぼ左右対称位置に配置され、前記受光光学系には前記各反射光束の結像位置に微小光電素子列からなる光電変換素子が設けられ、該光電変換素子は前記角膜の表面から反射された反射光束に対応する光電変換信号と前記角膜の裏面から反射された反射光束に対応する光電変換信号とに基づき前記角膜の厚さを計測する計測回路に接続されていることを特徴とする角膜厚さ測定装置。
Patent cited by the Patent：
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