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J-GLOBAL ID：200903039439794703

画像位置検査装置

Inventor： 中重 文宏 ,  野本 光正
Applicant, Patent owner： 株式会社リコー
Agent (1)： 園田 敏雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000394233
Publication number (International publication number)：2002199139
Application date： Dec. 26, 2000
Publication date： Jul. 12, 2002
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】必要な計測精度を確保しながら、画像入力装置として一般に供給されているデジタルフラットベットスキャナを利用できる画像位置検査装置を提供する。【解決手段】シート状の被検査物の画像パターン位置を検出する画像位置検査装置について、被検査物を保持する保持手段を設け、被検査物を上記保持手段にて保持する位置を制限する制限手段を設け、上記保持手段上を対象に2次元画像データを得る画像入力手段を設け、上記画像入力手段にて得られる画像データを記録する画像記録手段を設け、上記画像記録から上記被検査物の位置を検出する被検査物位置検出手段を設け、上記画像記録から上記被検査物の画像パターン位置を検出する画像位置検出手段を設け、上記画像位置検出手段にて得られた検出データを、上記被検査物位置検出手段にて得られた被検査物位置データを用いて、上記被検査物上の絶対位置データに変換する変換手段を設けた。

Claim (excerpt)：

位置が特定された画像パターンを有する原稿を対象に複写された、または、位置が特定された画像パターンの画像データを対象にプリントアウトされた、シート状の被検査物の画像パターン位置を検出する画像位置検査装置において、上記被検査物を保持する保持手段と、上記被検査物を上記保持手段にて保持する位置を制限する制限手段と、上記保持手段上を対象に2次元画像データを得る画像入力手段と、上記画像入力手段にて得られる画像データを記録する画像記録手段と、上記画像記録から上記被検査物の位置を検出する被検査物位置検出手段と、上記画像記録から上記被検査物の画像パターン位置を検出する画像位置検出手段と、上記画像位置検出手段にて得られた検出データを、上記被検査物位置検出手段にて得られた被検査物位置データを用いて、上記被検査物上の絶対位置データに変換する変換手段と、上記位置が特定された画像パターンの座標データと、上記変換手段にて得られる変換データとの差を算出する検査手段とを備えたことを特徴とする画像位置検査装置。

IPC (5)：

H04N 1/00 ,  H04N 1/00 106 ,  B41J 29/46 ,  G01B 11/03 ,  G06T 1/00 310

FI (5)：

H04N 1/00 A ,  H04N 1/00 106 C ,  B41J 29/46 A ,  G01B 11/03 H ,  G06T 1/00 310 A

F-Term (35)：

2C061AR01 ,  2C061KK18 ,  2C061KK28 ,  2F065AA03 ,  2F065AA14 ,  2F065AA22 ,  2F065AA37 ,  2F065BB02 ,  2F065CC02 ,  2F065DD06 ,  2F065EE00 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ25 ,  2F065MM07 ,  2F065PP02 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR06 ,  2F065TT02 ,  5B057AA12 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DC32 ,  5C062AA05 ,  5C062AC56 ,  5C062AC66