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J-GLOBAL ID:200903039486362226
化成処理皮膜付着量の定量分析方法および装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中濱 泰光
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001109554
Publication number (International publication number):2002310906
Application date: Apr. 09, 2001
Publication date: Oct. 23, 2002
Summary:
【要約】【課題】 化成処理皮膜の金属材料表面の化成処理皮膜の付着量を、金属材料をサンプリングすることなく、オンラインで且つ迅速、安価に測定する事を可能とする化成処理皮膜定量分析方法およびその装置を提供する。【解決手段】 金属材料表面に形成された化成処理皮膜の付着量を下記1)〜4)の手順で定量分析することを特徴とする化成処理皮膜付着量の定量分析方法。1)赤外線を収束して化成処理皮膜が形成された金属材料面に照射し、2)金属材料面上の収束した部分から反射した赤外線を、検出器の検出部へ収束させ、3)該検出部で金属材料面からの赤外線反射強度を測定し、4)得られた前記赤外線反射強度を化成処理皮膜の付着量に換算する。
Claim (excerpt):
金属材料表面に形成された化成処理皮膜の付着量を下記1)〜4)の手順で定量分析することを特徴とする化成処理皮膜付着量の定量分析方法。1)赤外線を収束して化成処理皮膜が形成された金属材料面に照射し、2)金属材料面上の収束した部分から反射した赤外線を、検出器の検出部へ収束させ、3)該検出部で金属材料面からの赤外線反射強度を測定し、4)得られた前記赤外線反射強度を化成処理皮膜の付着量に換算する。
IPC (4):
G01N 21/35
, G01N 21/27
, G01N 25/18
, G01N 33/20
FI (4):
G01N 21/35 Z
, G01N 21/27 B
, G01N 25/18 H
, G01N 33/20 Z
F-Term (31):
2G040AA02
, 2G040AB08
, 2G040BA08
, 2G040CA23
, 2G040CB09
, 2G040DA03
, 2G040DA10
, 2G040EA06
, 2G055AA02
, 2G055AA07
, 2G055DA23
, 2G055DA24
, 2G055FA01
, 2G055FA02
, 2G055FA05
, 2G059AA01
, 2G059BB10
, 2G059DD16
, 2G059EE02
, 2G059EE11
, 2G059FF08
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ01
, 2G059JJ02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059JJ23
, 2G059KK01
, 2G059LL04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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特開昭64-025039
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特開昭61-086634
-
特開平1-169341
-
特開平1-098929
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結晶欠陥観察方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-287710
Applicant:川崎製鉄株式会社
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