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J-GLOBAL ID：200903039771989917
非線形光学定数測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994146015
Publication number (International publication number)：1996015088
Application date： Jun. 28, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：
【要約】【目的】 粉末試料を用いても結果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさや、バルクでの位相整合の可否によらない簡便で正確な評価装置を提供すること。【構成】 基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに一定圧力以上の力で押しつけ、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することにより非線形光学定数を評価する。
Claim (excerpt)：
試料を全反射界面に押さえつけ、試料に光ビームを照射したときの全反射によるエバネッセント波を基本波とし、試料から発生する高次高調波を、屈折率の高い媒体を介して観測することを特徴とする非線形光学定数評価装置において、半円柱型全反射プリズムの手前に、プリズム内での光が平行になるようにコリメートするシリンドリカルレンズを具備することを特徴とする非線形光学定数評価装置。
IPC (3)：
G01M 11/00
, G02F 1/35 503
, G02F 1/37
