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J-GLOBAL ID：200903039839187822
粒子分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999374377
Publication number (International publication number)：2000275163
Application date： Dec. 28, 1999
Publication date： Oct. 06, 2000
Summary：
【要約】【課題】 ある測定項目に対して、信頼度の高い測定結果を出力する粒子分析装置を提供すること。【解決手段】 粒子分析装置は、測定部10、判定処理部3及び出力部4から構成されている。測定部10はさらに、流体部11、制御部12、第1測定部1、第2測定部2、ヒストグラム作成部13及びスキャッタグラム作成部14から構成されている。流体部11は、試験管に入れられた血液試料をピペットで吸い上げる。制御部12は、流体部11、第1測定部1及び第2測定部2を制御する。第1測定部1、第2測定部2で測定された測定データは判定処理部3に送られ、判定処理部3において判定された後、測定結果が出力部4で出力される。第1測定部1はインピーダンス方式による測定、第2測定部2はフローサイトメトリー方式による測定を行う。
Claim (excerpt)：
分析すべき粒子の特定の測定項目を少なくとも2つの測定原理で測定することのできる測定部と、この測定部における測定結果に基づいて少なくとも1つの測定原理に関する信頼度を算出し、算出した信頼度に基づいて測定結果を判定処理するための判定処理部と、この判定処理部において判定された少なくとも1つの信頼度に基づいて前記測定項目を出力するための出力部とを備えてなる粒子分析装置。
Patent cited by the Patent：
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