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J-GLOBAL ID：200903039848695830

光ファイバ増幅器の雑音指数測定方法及び測定装置

Inventor： 柏田 智徳 ,  西村 正幸 ,  重松 昌行
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992300994
Publication number (International publication number)：1994148027
Application date： Nov. 11, 1992
Publication date： May. 27, 1994
Summary：

【要約】【目的】 光ファイバ増幅器の雑音指数を高精度で測定することができる雑音指数測定方法及び測定装置を提供することを目的とする。【構成】 信号源から発せられる直線偏光状態の信号光を、直線偏光状態に保持しつつ伝送する偏波保持光ファイバと光バンドパスフィルタ及び偏波保持形光アイソレータ等の偏波保持光学部品を介して、測定すべき光ファイバ増幅器に入力し、該光ファイバ増幅器の光増幅によって発生される増幅信号光を位相補償器で直線偏光状態に復元して、偏光子で直線偏光状態にある信号光成分を除去して雑音光のみを光スペクトラムアナライザ等のスペクトラム解析手段に入力させることにより、該雑音光による光ファイバ増幅器の雑音指数を測定する構成とした。

Claim (excerpt)：

信号源から発せられる直線偏光状態の信号光を偏波保持光バイバ及び偏波保持光学部品を介して、測定すべき光ファイバ増幅器に入力し、該光ファイバ増幅器の光増幅によって発生される増幅信号光を位相補償器で直線偏光状態に復元して、偏光子で直線偏光状態にある信号光成分を除去して雑音光のみをスペクトラム解析手段に入力させることにより、該雑音光による光ファイバ増幅器の雑音指数を測定することを特徴とする光ファイバ増幅器の雑音指数測定方法。

IPC (6)：

G01M 11/00 ,  G02B 6/00 ,  G02F 1/35 501 ,  H01S 3/00 ,  H01S 3/07 ,  H04B 10/08

FI (2)：

G02B 6/00 B ,  H04B 9/00 K