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J-GLOBAL ID：200903039858755009

超臨界流体クロマトグラフ-質量分析装置

Inventor： 松浦 健二 ,  高橋 豊 ,  野島 一哲
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991309803
Publication number (International publication number)：1993119030
Application date： Oct. 29, 1991
Publication date： May. 14, 1993
Summary：

【要約】【目的】 CIイオン源を備えたSFC-質量分析装置の感度を向上させる。【構成】 SFCからの流出液が送られる定圧リリース弁の低圧側流路に、溶媒を混入する開口が設けられる。この溶媒としては、CIイオン源に送られて気化された時に反応ガスとして作用するものが選ばれる。溶媒とSFCからの流出液は、液体の状態で十分に混合された後、CIイオン源に送られて同時に気化されるため、CIイオン源のイオン化室内に十分均質に混合された試料ガスと反応ガスを存在させることができ、試料ガスを効率良く化学イオン化することができる。その結果、感度の向上を実現できる。

Claim (excerpt)：

超臨界流体クロマトグラフの流路内の圧力を一定に保つため該超臨界流体クロマトグラフの出力流路に設けられた定圧リリース弁と、該定圧リリース弁の低圧側出力流路から排出される流体が導入される化学イオン化イオン源とを備え、該定圧リリース弁の低圧側出力流路に化学イオン化イオン源に導入され気化された時に反応ガスとなる溶媒を混入するための開口を設けたことを特徴とする超臨界流体クロマトグラフ-質量分析装置。

IPC (3)：

G01N 30/72 ,  G01N 30/02 ,  H01J 49/04