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J-GLOBAL ID：200903039935380730
超電導線の臨界電流値を測定する方法および装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
深見 久郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997040887
Publication number (International publication number)：1998239260
Application date： Feb. 25, 1997
Publication date： Sep. 11, 1998
Summary：
【要約】【課題】 超電導線の全長における正確な臨界電流密度を求める。【解決手段】 超電導線の臨界電流値を測定する装置1は、冷却槽40と、測定器50と、送りローラ11および受けローラ12と、演算・制御用コンピュータ20とを備える。冷却槽40は第1区間から第n区間に分割された超電導線70のそれぞれの1つの区間を冷却する。測定器50は冷却された超電導線70の1つの区間に電流を流して電流値を変化させることによりm個の電流値(I1 〜Im )に対する電圧値(V1 〜Vm )を測定する。送りローラ11および受けローラ12は、第1区間から第n区間のそれぞれの区間で順次、電流値と電圧値の関係を測定器50によって測定するために超電導線70を移動させる。演算・制御用コンピュータ20は、超電導線70の各区間での電流値と電圧値との関係データを受取り基準電圧での臨界電流値を計算する。
Claim (excerpt)：
超電導線の全長を一定の長さの第1区間から第n区間のn個の長さに分割するステップと、前記第1区間から前記第n区間までのそれぞれの区間に電流を流してその電流値を変化させることにより、m個の電流値(I1 ,I2 ,...,Im )のそれぞれに対して電圧値(V1,1 〜V1,m ,V2,1 〜V2,m ,...,Vn,1 〜Vn,m ;ただし、Vk,i は第k区間、第i番目の電流値に対する電圧値である(kは1〜nの整数、iは1〜mの整数))を測定するステップと、m個の前記電流値(I1 ,I2 ,...,Im )の各々について第x区間から第y区間(ここで、x,yは整数であり、1≦x≦y≦n)で測定した電圧値の和(Vsum(1)=Vx,1 +Vx+1,1 +...+Vy,1 ,Vsum(2)=Vx,2 +V+x+1,2 +...+Vy,2 ,...,Vsum(m)=Vx,m +Vx+1,m +...+Vy,m )を計算するステップと、前記電流値(I1 ,I2 ,...,Im )と、前記電圧値の和(Vsum(1)〜Vsum(m))との関係を求めるステップと、前記電流値と前記電圧値との和との関係より、前記電圧値の和が前記超電導線の前記第x区間から前記第y区間に対応した所定の基準電圧であるときの電流値を求めて、この電流値を臨界電流値とするステップとを備えたことを特徴とする、超電導線の臨界電流値(Ic )を測定する方法。
IPC (3)：
G01N 27/00
, G01R 31/00 ZAA
, G01R 33/12 ZAA
G01N 27/00 Z
, G01R 31/00 ZAA
, G01R 33/12 ZAA Z
