不良検査方法およびその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴木由充
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994261697
Publication number (International publication number)：1996101915
Application date： Sep. 30, 1994
Publication date： Apr. 16, 1996
Summary：

【要約】【目的】対象物の特徴を正確に把握し、検査精度を向上する。【構成】良品を撮像して得られたモデル画像15上に複数の小領域A,B,Cを設定し、各小領域内の画像を部分モデル画像15A,15B,15Cとして登録する。検査時の対象物の画像上にも3つの小領域が設定され、各小領域内の画像について対応する部分モデル画像との濃度相関値が算出される。算出された各相関値のうちの最小値が所定のしきい値を下回ったとき、この領域に相当する部位に不良が発生しているものと判定される。

Claim (excerpt)：

対象物の不良を判別して検査する方法であって、対象物のモデル画像上に複数の領域を設定して得られた複数の部分モデル画像を予め登録しておき、検査すべき対象物を撮像して得られた画像に前記モデル画像と同様の条件で複数の領域を設定し、領域内の画像と対応する部分モデル画像とをそれぞれ比較することにより前記対象物の不良を判別することを特徴とする不良検査方法。

IPC (3)：

G06T 7/00 , B41F 33/14 , G01N 21/88

FI (3)：

G06F 15/70 460 A , B41F 33/14 G , G06F 15/62 410 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開昭55-157078
テンプレートマッチングの不感帯領域設定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-266493 Applicant：株式会社安川電機
特開昭63-014291

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