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J-GLOBAL ID：200903039953528621

粉体の目付測定方法および測定装置

Inventor： 鍵谷 浩司 ,  中嶋 博樹
Applicant, Patent owner： 東レ株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006052447
Publication number (International publication number)：2007232472
Application date： Feb. 28, 2006
Publication date： Sep. 13, 2007
Summary：

【課題】シート上に散布された紛体の目付分布、目付量を非接触でリアルタイム計測を可能とする、紛体の目付測定方法を提供する。【解決手段】平面基材上に載置された紛体に光を照射し、前記紛体により散乱、回折もしくは反射された光または前記粉体からの蛍光発光の強度を測定し、この測定値と予め作成しておいた検量値と比較することにより粉体の目付を測定することを特徴とする紛体の目付測定方法。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

平面基材上に載置された紛体に光を照射し、前記紛体により散乱、回折もしくは反射された光または前記粉体からの蛍光発光の強度を測定し、この測定値と予め作成しておいた検量値と比較することにより粉体の目付を測定することを特徴とする紛体の目付測定方法。

IPC (4)：

G01N 21/892 ,  G01N 21/93 ,  G01N 21/84 ,  G01N 21/89

FI (4)：

G01N21/892 A ,  G01N21/93 ,  G01N21/84 E ,  G01N21/89 K

F-Term (22)：

2G043AA03 ,  2G043CA06 ,  2G043CA07 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA06 ,  2G043GB28 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043LA03 ,  2G043NA11 ,  2G051AA32 ,  2G051AB20 ,  2G051AC21 ,  2G051BA05 ,  2G051BA06 ,  2G051BB01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA06 ,  2G051CB01 ,  2G051CB10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特開昭61-188326号公報
  

Cited by examiner (3)

• 特開昭53-096872
  
• 特開平4-360177
  
• 汚染物質量の検査方法およびその検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-035574   Applicant：株式会社リコー