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J-GLOBAL ID:200903040034310375

イオン化分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996125137
Publication number (International publication number):1997304344
Application date: May. 20, 1996
Publication date: Nov. 28, 1997
Summary:
【要約】【課題】質量分析等に供するイオンの発生効率を向上させる分析装置を提供する。【解決手段】イオン化室15内には、z方向に進退移動可能な針22が内蔵され、試料を含む電解質溶液Lを供給管18でイオン化室15内に供給する。供給管18には、イオン化室15内に貫通する孔20が穿設されている。供給管18と針22の間に所定の電圧を印加した状態で針22の先端を孔20に挿入して、電解質溶液に接触させ、電解質溶液内のイオンを電気泳動によって針22の先端に付着させる。針22を引き上げた後に針22の先端部にレーザ光を照射することによって、針22の先端に付着しているイオンをイオン化室15内へ放出させる。これにより、イオンを濃縮してソフトイオン化することができる。
Claim (excerpt):
電解質溶液内に含まれる試料のイオンをイオン化室内の気中または真空中に放出するイオン化分析装置であって、前記イオン化室内に設けられた針と、前記電解質溶液中のイオンを含む液滴または前記電解質溶液中のイオンを前記針に付着させる付着手段と、前記付着液滴、前記付着イオンまたは前記針の少なくとも一つにレーザ光を照射することにより、前記付着液滴中のイオンまたは前記付着イオンを前記イオン化室内に放出させる放出手段と、を具備することを特徴とするイオン化分析装置。
IPC (3):
G01N 27/64 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/04
FI (4):
G01N 27/64 B ,  G01N 27/62 G ,  G01N 27/62 V ,  H01J 49/04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特表平4-501189
  • 特開昭57-088662
  • 特開平2-122259

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