Pat
J-GLOBAL ID：200903040089938837
複数センサからの距離読み取りに基づいて複数の物体の位置を決定する方法及び装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
タイコエレクトロニクスアンプ株式会社
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003560587
Publication number (International publication number)：2005515444
Application date： Dec. 17, 2002
Publication date： May. 26, 2005
Summary：
【解決手段】複数の距離センサからの出力に基づいて複数の実在物体の位置を決定する方法及び装置。複数のセンサから多様な距離計測が得られ、各センサは、多様な距離計測を提供できる。複数のセンサからの距離計測は互いに相関があり、潜在的物体のリストを作成し、実在物体である可能性が最高のものから最低のものまで潜在的物体のリストを順序付ける。この順序は、潜在的物体が基づく個々のセンサ計測の累積誤差に基づいてもよい。次に、潜在的物体の順序付けられたリストは、リストで最高の序列の潜在的物体を実在物体と仮定し、次に、選択された物体が基づく任意の距離計測に基づいて他の全ての低い序列の潜在的物体のリストから除去することにより、実在物体のより小さなリストに削減する。この工程は、リスト上の全潜在的物体が実在物体として選択されるかリストから除去されるまで、リストに残った次に高い序列の潜在的物体に対して繰り返される。
Claim (excerpt)：
各々が多様な距離を計測できる複数の距離センサの距離計測結果に基づき複数の実在物体の位置を決定する方法であって、
(1)前記センサから複数の距離計測結果を得る工程と、
(2)各々が複数の計測結果に基づく複数の潜在的物体及び該潜在的物体の位置のリストを作成するよう前記複数のセンサの前記距離計測結果を相関付ける工程と、
(3)前記潜在的物体のリストを、実在物体である可能性の最も高いものから最も低いものまで順序付ける工程と、
(4)前記順序付けられたリストの最も可能性が高い潜在的物体を実在物体として選択する工程と、
(5)前記(4)の工程で選択された前記潜在的物体が基づく前記距離計測結果を決定する工程と、
(6)前記(4)の工程で選択された前記潜在的物体が基づく任意の前記距離計測結果に基づいて前記(4)の工程で選択された前記潜在的物体よりも序列が低い任意の潜在的物体と共に、前記(4)の工程で選択された前記潜在的物体を前記順序付けられたリストから除去する工程と、
(7)全ての潜在的物体が前記リストから除去されるまで、前記(4)の工程ないし前記(6)の工程を繰り返すことを特徴とする複数の実在物体の位置決定方法。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (14)：
5J062BB01
, 5J062BB05
, 5J062CC11
, 5J062DD25
, 5J070AC01
, 5J070AC02
, 5J070AD05
, 5J070AF03
, 5J070AK15
, 5J070AK22
, 5J070AK32
, 5J070BB01
, 5J070BB03
, 5J070BB15
Cited by applicant (3)
-
独国特許出願公開第19949409号明細書
-
独国特許出願公開第19711467号明細書
-
国際公開第0115070号パンフレット
Return to Previous Page
