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J-GLOBAL ID：200903040229898318

超音波探触子

Inventor： 中谷 千歳 ,  三和 祐一 ,  神田 浩 ,  竹内 裕之 ,  佐藤 裕
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立メディコ
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991336603
Publication number (International publication number)：1993168094
Application date： Dec. 19, 1991
Publication date： Jul. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】それぞれスライス厚み方向に十分なの解像度を有する交差する2枚の断層像を高い感度で得ることができる同軸バイプレ-ン探触子を提供する。【構成】上面、下面にそれぞれストライプ電極を備え、それらの向きがが交差するフレキシブルな振動子101を双凹面形状にし、超音波減衰の小さいコ-ティング層103をその凹面部分に埋め込んだ超音波探触子。【効果】上面のストライプ電極により第1の断面を走査する時も、下面のストライプ電極により第2の断面を走査する時も、スライス厚み方向の超音波ビームの収束がそれぞれの凹面形状により理想的に実現できる。

Claim (excerpt)：

超音波の送受波面側から見て双凹面状に形成された超音波振動子を有し、前記超音波振動子の両面にはそれぞれ第1組、第2組のストライプ状電極を備え、前記第1組、第2組のストライプ状電極は互いに交差する方向に形成され、前記第1組のストライプ状電極を信号電極とした第1断面内の超音波ビームの走査、及び前記第2組のストライプ状電極を信号電極とした前記第1断面と交差する方向の第2断面内の超音波ビームの走査を行うことを特徴とする超音波探触子。

IPC (4)：

H04R 17/00 332 ,  A61B 8/00 ,  G01N 29/24 502 ,  G01N 29/28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-215250
  
• 特開昭62-034500
  
• 特開昭60-247159