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J-GLOBAL ID：200903040232823698

紫外線吸光度測定装置

Inventor： 藤生 昌男
Applicant, Patent owner： 株式会社明電舎
Agent (1)： 志賀 富士弥 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993012101
Publication number (International publication number)：1994221998
Application date： Jan. 28, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：

【要約】【目的】 検水中の溶存オゾンによる影響を補正して検水(被測定水)中における有機物による紫外吸光度を高精度に測定することができる紫外吸光度測定装置を提供する。【構成】 検水中の溶存オゾン濃度を測定する溶存オゾン濃度測定部と、有機物の吸収波長(254(nm))での検水の紫外線吸光度(UVabsorb)を測定する吸光度測定部と、検水中のオゾン濃度の値を、この値に相当する前記波長λにおける紫外線吸光度(UVozn)に変換する変換部と、下式(A)によって検水の有機物による紫外線吸光度(UVorg)を演算する演算部とにより紫外線吸光度測定装置を構成する。(A):UVorg=UVabsorb-UVozn

Claim (excerpt)：

検水中の溶存オゾン濃度を測定する溶存オゾン濃度測定部と、有機物の吸収波長λにおける前記検水の紫外線吸光度(UVabsorb)を測定する吸光度測定部と、前記溶存オゾン濃度測定部から得られる前記検水中のオゾン濃度の値を、この値に相当する前記波長λにおける紫外線吸光度(UVozn)に変換する変換部と、前記吸光度測定部から得られるUVabsorbの値と前記変換部から得られるUVoznの値とに基づいて、前記検水の有機物の吸収による紫外線吸光度(UVorg)を演算する演算部とを有することを特徴とする紫外線吸光度測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/33 ,  G01N 33/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平2-112176
  
• 特開平2-174081
  
• 特開平2-183978