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J-GLOBAL ID：200903040259381565

時間ゲート光波断層画像測定方法及び装置

Inventor： 佐藤 学 ,  渡部 裕輝 ,  古川 博康 ,  権 貴龍
Applicant, Patent owner： 株式会社クリニカル・サプライ ,  佐藤 学
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004060248
Publication number (International publication number)：2005245740
Application date： Mar. 04, 2004
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：

【課題】計測時間が速く、生体内で起こる生体現象の連続的なイメージ化が可能である時間ゲート光波断層画像測定装置を提供する。【解決手段】生体試料12内のある断層からの時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させ、前記二つの干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、この切り出した二つの干渉画像を一つのイメージセンサ18上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行う。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

生体試料内のある断層面からの散乱光を用いて得られる周期的に時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が異なる複数の干渉画像を光学的に発生させ、前記複数の干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、該切り出した複数の干渉画像をイメージセンサ上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行うことを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定方法。

IPC (2)：

A61B10/00 ,  G01N21/17

FI (2)：

A61B10/00 E ,  G01N21/17 630

F-Term (22)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG08 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ23 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059NN10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 医療用観察機器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-183932   Applicant：株式会社フローベル, 有限会社新興光器製作所
• 立体視硬性内視鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-032491   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 立体視内視鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-183815   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 2次元光ヘテロダイン検出法を用いた光画像計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-153919   Applicant：科学技術振興事業団