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J-GLOBAL ID:200903040265259844

細隙灯顕微鏡

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 矢野 敏雄 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993032350
Publication number (International publication number):1993337086
Application date: Feb. 23, 1993
Publication date: Dec. 21, 1993
Summary:
【要約】【目的】 被検者の眼内部の特別の深部断面を視覚で観察することが可能であり、かつ通常の検眼鏡で得た経験を最大限利用することができる検眼鏡検査装置を提供する。【構成】 該検眼鏡検査装置は、スリット状の照明光斑を被検者の眼(25;125)に投影する細隙灯と、少なくとも1つの対物レンズ(4;104)、少なくとも2つの接眼レンズ(16a,16b;116)及び上記対物レンズ(4;104)と接眼レンズ(16a,16b;116)との間を延びる少なくとも1つの光路(126;105)を有する顕微鏡と、上記光路(126;105)内の中間像内又はその近くの、光路内に配置された、多数の透明な領域及び不透明な領域を有する絞り板(31;131)とを有し、該透明な領域が中間像面の像を走査するように構成されている。
Claim (excerpt):
スリット状の照明光斑を被検者の眼(25;125)に投影する細隙灯と、少なくとも1つの対物レンズ(4;104)、少なくとも2つの接眼レンズ(16a,16b;116)及び上記対物レンズ(4;104)と接眼レンズ(16a,16b;116)との間を延びる少なくとも1つの光路(126;105)を有する顕微鏡と、上記光路(126;105)内の中間像内又はその近くの、光路内に配置された、多数の透明な領域及び不透明な領域を有する絞り板(31;131)とを有し、該透明な領域が中間像面の像を走査することを特徴とする細隙灯顕微鏡。
IPC (2):
A61B 3/135 ,  A61F 9/00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • 特開昭58-200730
  • 特開昭61-045721
  • 特開昭57-128310
Cited by examiner (3)
  • 特開昭58-200730
  • 特開昭58-200730
  • 特開昭62-215704

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