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J-GLOBAL ID：200903040290919506

粒度分布測定装置

Inventor： 島岡 治夫 ,  竹内 和
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991158170
Publication number (International publication number)：1993018881
Application date： Jun. 28, 1991
Publication date： Jan. 26, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 他の原理等に基づく装置による粒度分布測定データと直ちに比較可能な形の粒度分布測定データを出力可能な粒度分布測定装置を提供する。【構成】 測定データに基づく粒度分布曲線を平行移動および傾きを変更する演算手段dと、その演算手段dによる平行移動量Tおよび傾き変更量Sを設定記憶する設定手段eを設け、同一試料について測定データが基準データと一致するよう演算加工したデータを表示するように構成する。

Claim (excerpt)：

試料粉粒体の粒度分布を測定してその結果を表示する表示手段を有する装置において、粒度分布測定結果を記憶する測定結果記憶手段と、その記憶内容に基づく粒度分布曲線について平行移動させる機能およびその傾きを変化させる機能を有する演算手段と、この演算手段による平行移動の量および傾きの変化の量を設定し、かつ、その設定内容を記憶する設定手段を有し、上記表示手段には、試料粉粒体の実際の測定結果を上記設定手段により設定記憶された平行移動量および傾き変化量に従って上記演算手段により加工された粒度分布データを表示し得るよう構成されていることを特徴とする粒度分布測定装置。