Pat

J-GLOBAL ID：200903040327168530

曲り測定装置

Inventor： 川上 明久
Applicant, Patent owner： 大阪電子機械株式会社
Agent (1)： 河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995111941
Publication number (International publication number)：1996304046
Application date： May. 10, 1995
Publication date： Nov. 22, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 棒状被検査材の直交する2方向の曲りを同時に測定可能とする。【構成】 被測定材Wを挟んで上下に発光部31、受光部32を配置し、これらの間にレーザビームを平行に出射し、被測定材Wによってさえぎられるレーザビーム本数から被測定材Wのx軸方向の外径,中心点を求め、同時にレーザ変位計にて被測定材Wの下面との変位量を求める。

Claim (excerpt)：

基準線に沿わせて配した棒状被測定材と前記基準線との距離を測定して棒状被測定材の曲りを測定する装置において、前記棒状被測定材の周方向の異なる2母線夫々と対向する第1,第2の距離計と、該第1,第2の距離計が装着されており、前記基準線と平行に移動する移動台とを備えることを特徴とする曲り測定装置。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/08 ,  G01B 11/30 101

FI (5)：

G01B 11/24 M ,  G01B 11/00 B ,  G01B 11/00 D ,  G01B 11/08 Z ,  G01B 11/30 101 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭59-189081
  
• 特開平1-239410
  
• 特開昭61-105409