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J-GLOBAL ID:200903040347166771
糖鎖構造同定方法及び同解析装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
小林 良平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004080611
Publication number (International publication number):2005265697
Application date: Mar. 19, 2004
Publication date: Sep. 29, 2005
Summary:
【課題】 微量のサンプルで、簡便且つ迅速に糖鎖の完全な一次構造を決定することのできる、糖鎖構造解析システムを提供する。 【解決手段】 分析目的糖鎖を開裂質量分析することにより得られる測定MS2フラグメントパターンに含まれる各MS2フラグメントイオンの更に開裂質量分析パターンである測定MS3フラグメントパターンをデータベースに記憶されている参照MS3フラグメントパターンと照合することにより分析目的糖鎖構造の同定を行う、質量分析装置を用いた糖鎖構造同定方法において、測定MS2フラグメントパターンに含まれる複数のMS2フラグメントイオンのうち、データベースに記憶されている、その質量電荷比をプリカーサイオン質量電荷比とする複数の参照MS3フラグメントパターンの相互の類似度が所定値以下の測定MS2フラグメントイオンのみを開裂質量分析するようにする。【選択図】 図15
Claim (excerpt):
分析目的糖鎖を開裂質量分析することにより得られる測定MS2フラグメントパターンに含まれる各MS2フラグメントイオンの更に開裂質量分析パターンである測定MS3フラグメントパターンをデータベースに記憶されている参照MS3フラグメントパターンと照合することにより分析目的糖鎖構造の同定を行う、質量分析装置を用いた糖鎖構造同定方法において、
測定MS2フラグメントパターンに含まれる複数のMS2フラグメントイオンのうち、データベースに記憶されている、その質量電荷比をプリカーサイオン質量電荷比とする複数の参照MS3フラグメントパターンの相互の類似度が所定値以下の測定MS2フラグメントイオンのみを開裂質量分析することを特徴とする糖鎖構造同定方法。
IPC (3):
G01N27/62
, G01N33/48
, G01N33/483
FI (4):
G01N27/62 V
, G01N27/62 D
, G01N33/48 Z
, G01N33/483 E
F-Term (3):
2G045DA30
, 2G045FA36
, 2G045JA01
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