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J-GLOBAL ID:200903040390499407
放射線断層撮影方法および装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井島 藤治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998011347
Publication number (International publication number):1999089830
Application date: Jan. 23, 1998
Publication date: Apr. 06, 1999
Summary:
【要約】【課題】 スキャン時間を等価的に短縮した放射線断層撮影方法および装置を実現する。【解決手段】 複数の放射線ビームによる被検体の投影データを被検体の周囲の複数のビュー方向で順次に測定し、対向ビューデータ同士について所望の時間位相に重点的に重み付けが行われるよう重み付け演算を行うことにより補間投影データを算出し、この補間投影データに基づいて断層像を生成し、所望の時間位相における対象臓器の静止画像に近似した断層撮影を行う。
Claim (excerpt):
複数の放射線ビームによる被検体の投影データを被検体の周囲の複数のビュー方向で順次に測定し、前記投影データのうち同一の経路を互いに逆方向に透過した放射線による投影データ同士について重み付け演算を行うことにより、前記複数のビュー方向のおのおのについて補間投影データを算出し、前記補間投影データに基づいて前記被検体の断層像を生成する、放射線断層撮影方法であって、前記重み付け演算が前記被検体のまわりの所望の時間位相を中心に重点的に重み付けされるよう制御する、ことを特徴とする放射線断層撮影方法。
IPC (2):
A61B 6/03 370
, A61B 6/03 350
FI (2):
A61B 6/03 370 B
, A61B 6/03 350 R
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開平4-049952
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特開平4-288149
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特開昭62-227324
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