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J-GLOBAL ID：200903040403395657
測光装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991169775
Publication number (International publication number)：1993018820
Application date： Jul. 10, 1991
Publication date： Jan. 26, 1993
Summary：
【要約】【目的】測光ダイナミックレンジの広い簡単な構成の測光装置を提供すること。【構成】抵抗32及びコンデンサ41で成るローパスフィルタと、CPU10による第1のデューティ駆動とによって、フォトダイオード20のアノード電位を設定し、コンデンサ21の充(放)電の開始電位を変化させる。そして、この開始電位からの充(放)電電圧がCPU10内に構成されたシュミット形インバータ11に印加され、そのスレッシュレベルを越えるまでの時間がCPU10により計時される。この計時結果が所定範囲内にないとき、CPU10による第2のデューティ駆動を行なってフォトダイオード20のアノード電位を再設定し、再度上記計時を行なう。こうして得られた所定範囲内の計時結果に基づいて光量が測定される。
Claim (excerpt)：
入力電圧が所定値を越えると反転出力する入力ゲートを含むCMOS入力端子と、CMOS出力端子とを有するマイクロコンピュータと、入射光量に応じて光電流を出力する測光素子と、この測光素子の内部に寄生しているか、上記測光素子の外部に並列に接続されたコンデンサと、上記マイクロコンピュータの上記CMOS出力端子と上記測光素子との間に接続され、この出力端子より出力される制御信号に応じて複数種類のアナログ電圧が生成され、このアナログ電圧に応じて上記コンデンサの充電もしくは放電の開始レベルを設定する電圧設定手段と、この電圧設定手段によって充電もしくは放電の開始レベルが設定された後に、上記測光素子の上記光電流による充電もしくは放電を開始させ、上記入力ゲートが反転するまでの時間を計測する計測手段と、この計測手段の出力に基づいて、上記計測された時間が最適な範囲に入るように上記電圧設定手段によって設定されるアナログ電圧を再設定する再設定手段と、を具備し、この再設定手段によって最適化された後に、上記計測された時間に基づいて光量を測定することを特徴とした測光装置。
IPC (2)：
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