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J-GLOBAL ID:200903040424535793

二次電池の劣化検出方法及び容量推測方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 東島 隆治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997167499
Publication number (International publication number):1999014717
Application date: Jun. 24, 1997
Publication date: Jan. 22, 1999
Summary:
【要約】【課題】 充放電サイクルを繰り返した二次電池の劣化の様子を統一的、かつ定量的に検出する方法を提供する。【解決手段】 被検二次電池に所定電流を所定時間印加したときの電圧を測定し、電池の初期電圧からの降下(または上昇)分を計算し、その値をV=ai2+bi+c(V:電圧降下分、i:印加電流)で表される二次関数でフィッティングし、これにより得られたaにより被検二次電池の劣化度を定量的に表す。このパラメータaを放電容量=k1-ak2(k1、k2は電池固有の定数)に入力計算することで、被検電池の放電容量を推測する。
Claim (excerpt):
被検二次電池に互いに異なる複数の電流をそれぞれ所定時間印加し、このとき測定された前記二次電池の電圧値を所定の計算式に入力演算処理して数値パラメータを算出し、この数値パラメータにより前記二次電池の劣化の度合いを定量的に判別することを特徴とする二次電池の劣化検出方法。
IPC (3):
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00
FI (3):
G01R 31/36 A ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 X
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 無線通信装置用充電器
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-240060   Applicant:株式会社東芝
  • 電池の残存容量計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-321482   Applicant:九州電機製造株式会社

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