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J-GLOBAL ID:200903040434209118

露光における位置合わせ方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 湯浅 恭三 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993221374
Publication number (International publication number):1995049575
Application date: Sep. 06, 1993
Publication date: Feb. 21, 1995
Summary:
【要約】【目的】 大型基板に対してもフォトマスクを高精度で適正に位置合わせできるようにする。【構成】 位置合わせ装置は、フォトマスク保持手段2、3と、基板保持手段7と、検出手段9と、力付与手段3とを備える。フォトマスク1および基板にはそれぞれ位置合わせマーク5、8が形成されている。マーク5、8相互間の位置ずれ量を検出手段9により検出し、それに基づき力付与手段3がフォトマスク1の周縁に力を加える。それによりフォトマスク1はその面内で弾性的に変形し、該マスク1の位置合わせマーク5は移動する。その結果、マスク1の位置合わせマーク5と基板6の位置合わせマーク8との間の位置ずれ量が所定の値となる。
Claim (excerpt):
露光における位置合わせ方法において、パターンが描かれ且つ複数個の位置合わせマークを有するフォトマスクを準備する段階と、前記フォトマスクの位置合わせマークに対応する複数個の位置合わせマークを有する基板を、その露光すべき面を前記フォトマスクに向けて配置する段階と、前記フォトマスクおよび前記基板のそれぞれの対応する位置合わせマーク相互間の位置ずれ量を検出する段階と、前記フォトマスクの周縁の少なくとも一部に力を加えて該フォトマスクをその面内で弾性的に変形させることにより、前記位置ずれ量を所定の値にする段階と、からなる位置合わせ方法。
IPC (3):
G03F 9/00 ,  G03B 27/32 ,  H05K 3/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭62-247528

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