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J-GLOBAL ID：200903040503716744

粒子分析装置

Inventor： 小坂 時弘
Applicant, Patent owner： 東亜医用電子株式会社
Agent (1)： 野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993192532
Publication number (International publication number)：1995049301
Application date： Aug. 03, 1993
Publication date： Feb. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】 ラインセンサを複数使用することでスキャンニング像の分解能を向上させる。【構成】 フローセルと、フローセル内を流動する被検粒子に光を照射するランプと、被検粒子から得られた像光を少なくとも2以上に分割するハーフミラーと、分割された各像光を受光して被検粒子の部分像を結像させ、その部分像に対応する信号を一定周期の走査ごとにそれぞれ出力する複数の一次元イメージセンサと、各一次元イメージセンサから、被検粒子の移動に応じて一定周期の走査ごとに出力された複数の信号をそれぞれ得、それらの信号を組み合わせることにより被検粒子の分析を行う信号処理装置から構成し、移動する被検粒子の異なる箇所の部分像を各一次元イメージセンサにそれぞれ露光させる。

Claim (excerpt)：

試料液中に存在する被検粒子を分離状態で流動させる光透過性の管を有するフロー手段と、光透過性の管内を流動する被検粒子に光を照射する光照射手段と、光の照射された被検粒子から得られた像光を少なくとも2以上に分割するビームスプリット手段と、ビームスプリット手段によって分割された各像光を受光して被検粒子の部分像を結像させ、その部分像に対応する信号を一定周期の走査ごとにそれぞれ出力する複数の一次元イメージ検出手段と、各一次元イメージ検出手段から、被検粒子の移動に応じて一定周期の走査ごとに出力された複数の信号をそれぞれ得、それらの信号を組み合わせることにより被検粒子の分析を行う信号処理手段を備え、各一次元イメージ検出手段は、移動する被検粒子の異なる箇所の部分像をそれぞれ露光することを特徴とする粒子分析装置。

IPC (2)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/53