Pat

J-GLOBAL ID：200903040617067975

光ファイバ歪測定装置

Inventor： 上片野 充 ,  宮本 末広 ,  小川 理
Applicant, Patent owner： 株式会社フジクラ ,  東京電力株式会社
Agent (1)： 志賀 正武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995261838
Publication number (International publication number)：1997105701
Application date： Oct. 09, 1995
Publication date： Apr. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】 ポンプ光の周波数変化、多重平均化処理等を行うことなく、光ファイバ中に生じる張力歪の時間変化、すなわち振動を測定することができ、さらにその長手方向の分布を測定することのできる光ファイバ歪測定装置を提供する。【解決手段】 被測定光ファイバ1にポンプ光を入射する光源21と、光源21と被測定光ファイバ1との間に設けられた第1の光分岐器22と、被測定光ファイバ1中に発生するブリルアン後方散乱光を第1の光分岐器22を介して取り出し、増幅した後に再度被測定光ファイバ1に入射させる光増幅器24と、光増幅器24と第1の光分岐器または被測定光ファイバ1のいずれかとの間に設けられた第2の光分岐器26と、ブリルアン後方散乱光とポンプ光を検出し、これらの周波数差を測定する周波数差測定手段29とを備えたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被測定光ファイバにポンプ光を入射する光源と、当該光源と前記被測定光ファイバとの間に設けられた第1の光分岐器と、前記被測定光ファイバ中に発生するブリルアン後方散乱光を前記第1の光分岐器を介して取り出し、増幅した後に再度前記被測定光ファイバに入射させる光増幅器と、該光増幅器と前記第1の光分岐器または前記被測定光ファイバのいずれかとの間に設けられた第2の光分岐器と、該第2の光分岐器により分岐されたブリルアン後方散乱光と前記第1の光分岐器により分岐されたポンプ光を検出し、該ブリルアン後方散乱光と前記ポンプ光との周波数差を測定する周波数差測定手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ歪測定装置。

IPC (3)：

G01M 11/00 ,  G01M 11/02 ,  G02F 1/35 501

FI (3)：

G01M 11/00 G ,  G01M 11/02 Z ,  G02F 1/35 501