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J-GLOBAL ID：200903040685422481
質量分析方法および質量分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001047064
Publication number (International publication number)：2001311720
Application date： Feb. 22, 2001
Publication date： Nov. 09, 2001
Summary：
【要約】【課題】低分解能の質量分析装置であっても、容易に干渉イオンを除外可能な装置を提供する。【解決手段】各元素について、その同位体質量数情報および同位体存在比情報を保持し、これらの情報と測定結果より図1に示すような処理をおこない、目的の元素に対する他元素同位体の干渉量を算出し除外することによって、目的の元素イオン量を算出する。比較的低分解能の質量分析装置によって元素分析を行う際、ユーザが目的とする任意の元素イオン量の測定結果を容易に得ることができる。
Claim (excerpt)：
試料をイオン化して質量分析を行い、質量数毎のイオン量を測定する質量分析方法において、測定すべき元素を第1の測定対象として設定するステップと、予め記憶された元素の同位体情報を用いて前記設定された第1の測定対象に干渉する元素を検索するステップと、当該検索により干渉する元素が存在する場合、当該干渉元素の同位体の中から第2の測定対象を選択するステップと、前記第1の測定対象と第2の測定対象の測定を行うステップと、前記第2の測定対象のイオン量測定結果を用いて前記第1の測定対象のイオン量を算出するステップを有することを特徴とする質量分析方法。
FI (2)：
G01N 27/62 D
, G01N 27/62 G
