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J-GLOBAL ID：200903040693248431

質量スペクトル表示方法,質量スペクトル表示装置,質量分析方法及び質量分析装置

Inventor： 加藤 義昭
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997100022
Publication number (International publication number)：1998293120
Application date： Apr. 17, 1997
Publication date： Nov. 04, 1998
Summary：

【要約】【課題】MS/MSで得られた生成物イオンの質量スペクトルにMS/MSの世代、前駆イオンの情報がないため、解析が困難に成る。【解決手段】MS/MS装置により得られる生成物イオン質量スペクトルの上に、MS/MSの世代と前駆イオンの質量を質量の軸上に表示する。また、生成物イオンの質量の表示の近傍に前駆イオンの質量との差を併せ表示する。更に、世代の異なる質量スペクトルを識別するためにバーグラフの色分けを行う。これにより、同一バーグラフ上に複数世代のバーグラフを重ねて出力することが可能になる。【効果】質量差や前駆イオンの世代が明瞭になり、スペクトルの解釈,データの保管性も向上する。

Claim (excerpt)：

試料をイオン化し、前記イオンから所定質量の前駆イオンを分離し、前記前駆イオンを解離又は反応させて少なくとも前記前駆イオンと質量の異なる質量を含んだ生成イオンを生成し、前記生成イオンを質量分離し、前記生成イオンの質量スペクトル及び前記前駆イオンの質量を表示する質量スペクトル表示方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• CIDを使用するMSn
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-246747   Applicant：バリアン・アソシエイツ・インコーポレイテッド
• 質量分析計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-052222   Applicant：株式会社日立製作所
• 特開昭61-020856