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J-GLOBAL ID：200903040755096862

偏光状態測定方法及び装置

Inventor： ルイス ビー アラード ,  ロバート アイ マクドナルド ,  カレイ エム ギャレット
Applicant, Patent owner： ジェイディーエス ファイテル インコーポレイテッド
Agent (1)： 田中 清 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999335906
Publication number (International publication number)：2000199720
Application date： Nov. 26, 1999
Publication date： Jul. 18, 2000
Summary：

【要約】【課題】 大部分の入力光が検出器に導かれるようにした、エネルギー保存型の、偏光状態測定のための光回路及び方法を提供する。【解決手段】 入力光ビームの偏光状態は、光のストークスベクトルの4つの成分を測定することにより検査される。これらは、3つの偏光状態、S1:水平直線、S2:45度直線、S3:右回り偏光、及びS0合計強度における光の成分に対応するが、これらの成分を直接ろ波して強度を測定する必要はない。本発明により、互いに既知の関連する3つの任意の偏光状態での強度を測定し、そしてまた合計強度を測定することができる。実際のストークスベクトル成分はこの情報から計算される。3つの偏光ビーム分岐面及びプリズムを有する装置により、入力ビームの偏光状態を測定可能とする一組の等式が解けるように、入力ビームから必要な情報を得るための新規な方法が提供される。

Claim (excerpt)：

下記の工程a)〜h):a)第1のビームを用意し;b)偏光依存の方法で光ビームを分岐し、少なくとも上記ビームの分岐部分を偏光し、及び上記ビームの分岐部分を遅延する光学系を用意し;c)第1のビームを2つのサブビームに分割し;d)上記各2つのサブビームをさらに2つのサブビームに分割して、4つの光サブビームを得るが、上記分割工程c)又はd)の少なくとも一つを偏光依存の方法で行い;e)上記4つの光サブビームの第1のものを偏光素子に通過させて、第1の偏光ビームを得て;f)上記4つの光サブビームの第2のものを位相遅延素子に通過させて、上記4つの光サブビームの第2のものの直交成分間で相対位相を変化させ、次いで、上記ビームを偏光素子に通過させて、第2の偏光ビームを得て;g)上記第1の偏光ビーム、第2の偏光ビーム及び2つの残りのサブビームの強度を検出し;及びh)検出された強度及び上記光学系の属性に応じて、上記入力ビームの偏光状態を測定する;を含むことを特徴とする光ビームの偏光状態測定方法。