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J-GLOBAL ID：200903040799049705
測距装置および測距方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
高橋 敬四郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993255848
Publication number (International publication number)：1995110435
Application date： Oct. 13, 1993
Publication date： Apr. 25, 1995
Summary：
【要約】【目的】 測距対象から互いに異なる光路を経て入射する光を一対の光センサアレイ上に結像させ、一方の光センサアレイ上に結像した映像と、他方の光センサアレイ上に結像した映像とを相対的にシフトさせながら相関度の演算を行い、最も高い相関度を示すシフト量から測距対象までの距離を算出する距離測定装置に関し、主要被写体が撮影範囲の中央部にない場合であっても、主要被写体のある領域を特定し、該領域のみについて測距を行うことのできる距離測定技術を提供することを目的とする。【構成】 撮影範囲を複数のゾーンに分割し、各ゾーンのコントラストを測定するコントラスト測定工程と、前記各ゾーンのコントラストを比較し、主要被写体が存在するゾーンを検出する主要被写体検出工程と、主要被写体が存在するゾーンについて被写体までの距離を測定する測距工程とを有する。
Claim (excerpt)：
撮影範囲を複数のゾーンに分割し、各ゾーンのコントラストを測定するコントラスト測定工程と、前記各ゾーンのコントラストを比較し、主要被写体が存在するゾーンを検出する主要被写体検出工程と、主要被写体が存在するゾーンについて被写体までの距離を測定する測距工程とを有する測距方法。
IPC (3)：
G02B 7/34
, G01C 3/06
, G03B 13/36
G02B 7/11 C
, G03B 3/00 A
Cited by examiner (7)
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