Pat
J-GLOBAL ID：200903040816188323

RFIDタグ、RFIDリーダ・ライタ、RFIDシステムおよびRFIDシステムの処理方法

Inventor：
根本 亮

About 根本 亮

, 
吉木 宏

About 吉木 宏

, 
矢澤 義昭

About 矢澤 義昭

, 
渡邊 一希

About 渡邊 一希


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 筒井 大和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005304073
Publication number (International publication number)：2007114925
Application date： Oct. 19, 2005
Publication date： May. 10, 2007
Summary：
【課題】センサ内蔵のRFIDタグを含むRFIDシステムにおいて、センサによる測定精度を向上させる。【解決手段】例えば、センサ部SENSを内蔵したRFIDタグ(Chip)を用いて複数回の測定(ステップ401,403等)を行う際、各測定が終了する度にRFIDリーダ・ライタR/WからRFIDタグに向けたキャリアの発生を一定時間停止する(ステップ402,404等)。これによって、各測定による電力消費によって上昇したRFIDタグのチップ温度を、各測定が終了する度に、周辺温度等にまで低下させることができるため、センサ部SENSによる測定誤差が低減し、高精度な測定が実現可能となる。【選択図】図4
Claim (excerpt)：
通信回路と制御回路とセンサ回路とを1つの半導体チップに集積化したRFIDタグと、 前記RFIDタグとの間で無線通信が可能なRFIDリーダ・ライタとを備えたRFIDシステムであって、 前記センサ回路を用いて複数回連続して測定を行う際に、前記各測定の合間に一定期間前記RFIDタグの内部回路への電力供給を絶つ機能を備えることを特徴とするRFIDシステム。
IPC (4)：
G06K 17/00 ,  G06K 19/07 ,  H04B 1/59 ,  H04B 5/02
FI (4)：
G06K17/00 F ,  G06K19/00 H ,  H04B1/59 ,  H04B5/02
F-Term (16)：
5B035AA11 ,  5B035BB09 ,  5B035CA23 ,  5B035CA31 ,  5B058CA17 ,  5B058CA23 ,  5B058KA21 ,  5B058YA13 ,  5K012AB02 ,  5K012AB05 ,  5K012AC06 ,  5K012AC09 ,  5K012AC11 ,  5K012AE01 ,  5K012AE13 ,  5K012BA03
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 通信システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-145610   Applicant：株式会社日立製作所
  • ICタグ・センサユニット
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-203150   Applicant：NTN株式会社
  • 異常検知システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-344620   Applicant：株式会社INAX
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM