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J-GLOBAL ID：200903040832528428

光ファイバの波長分散測定方法

Inventor： 佐原 明夫 ,  中沢 正隆 ,  今井 健之
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 吉田 精孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995143197
Publication number (International publication number)：1996334436
Application date： Jun. 09, 1995
Publication date： Dec. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】 両端の設置位置が遠隔地にある被測定ファイバにも適用可能な光ファイバの波長分散測定方法を提供する。【構成】 光源3より発生した光をビームスプリッタ4で測定光及び参照光に分け、参照光をそのまま光検出器5に導くとともに、測定光を光サーキュータ8を介して被測定ファイバ1の一端1aより入射して伝搬させ、これを他端1b側に設けた双方向光増幅器9で増幅し、全反射ミラー10で反射させて被測定ファイバ1を逆方向に再度伝搬させ、一端1aより出射する測定光を光サーキュータ8を介して光検出器6に導き、参照光及び被測定ファイバ1往復伝搬後の測定光を電気信号に変換し、それらの位相差を位相差計7で求め、さらに遅延時間を求め、これを光波長を変えて繰り返すことにより波長分散を求める。

Claim (excerpt)：

正弦波で強度変調された光を2つに分けて一方を測定光、他方を参照光とし、被測定ファイバを伝搬させた後の測定光とそのままの参照光との位相差を測定し、該位相差から遅延時間を求め、これを光の波長を変えて繰り返すことにより被測定ファイバの波長分散を測定する光ファイバの波長分散測定方法において、測定光を被測定ファイバの一端より入射して該被測定ファイバを伝搬させ、被測定ファイバの他端にて増幅するとともに反射させて該被測定ファイバを再度伝搬させ、前記一端より出射される測定光と参照光との位相差を測定するようになしたことを特徴とする光ファイバの波長分散測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭62-025232
  
• 光ファイバの波長分散測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-327966   Applicant：日本電信電話株式会社
• 光ファイバの特性測定装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-282908   Applicant：富士通株式会社