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J-GLOBAL ID：200903040961930712

光検出装置

Inventor： デュベネック,ゲルト・ルートビッヒ ,  グルデン,カールハインツ ,  クンツ,リノ・エルンスト ,  ゼーヒティッヒ,ユルゲン
Applicant, Patent owner： ツェプトゼンス アクチエンゲゼルシャフト
Agent (1)： 青山 葆 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998510341
Publication number (International publication number)：2000516719
Application date： Aug. 08, 1997
Publication date： Dec. 12, 2000
Summary：

【要約】本発明は化学分析のための光検出装置であって、少なくとも1つの光源と、少なくとも1つの光電検出装置と、少なくとも1つの測定セルと、前記少なくとも1つの測定セルに連結され、前記光源と前記光電検出装置との間に形成される1つもしくはそれ以上の光通路と、からなっている。このような複数アナライト同時検出用のアレイの検出装置を小型化する傾向過程の中で、従来技術では切り離されて基板に取り付けられたエッジ放射半導体レーザが使用されていた。それに代り、本発明では光源として表面放射半導体レーザを提供し、これは比較的簡単な製造と非常な省スペースをもたらす利点を有する。本発明によれば、従来必要とされたレーザを本体基盤から切り離して別の基盤に取り付けるプロセスが不要になる。

Claim (excerpt)：

少量標本の化学分析に特に適した光検出装置であって、 検出光を放射するための少なくとも1つの光源(10;310,311;410,411;510,511)と、 光強度を検出し、その光強度を対応する電気信号に変換するための少なくとも1つの光電検出装置(4;304,305;404,405;504,505)と、 検査すべき標本を保持するための少なくとも1つの測定セルと、 前記少なくとも1つの測定セルに連結され、前記光源と前記光電検出装置との間に形成される1つもしくはそれ以上の光通路と、 からなり、前記少なくとも1つの光源(10;310,311;410,411;510,511)が表面放射半導体レーザである装置。

IPC (3)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/75 ,  G01N 31/20

FI (4)：

G01N 21/64 F ,  G01N 21/64 G ,  G01N 21/75 Z ,  G01N 31/20