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J-GLOBAL ID：200903040962261245

光学的分析装置用測定チップ

Inventor： 永田 良平 ,  中村 瑠奈
Applicant, Patent owner： 大日本印刷株式会社
Agent (1)： 平木 祐輔 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998072460
Publication number (International publication number)：1999271212
Application date： Mar. 20, 1998
Publication date： Oct. 05, 1999
Summary：

【要約】【課題】 チップ表面との親和性が低い液滴Pを効果的に試料液室に保留することのできる光学的分析装置用測定チップAを得る。【解決手段】 透光性基板1と、該透光性基板の一面上に形成される試料液室7とを有し、該試料液室7は、閉ループ状の隔壁6によって区画されている。試料液室7内に滴下された液滴の自由移動は、閉ループ状の隔壁6により確実に抑制される。閉ループ状の隔壁6は、好ましくは、シリコンRTVゴムにより形成する。

Claim (excerpt)：

透光性基板と、該透光性基板の一面上に形成される試料液室とを有し、該試料液室は、閉ループ状の隔壁によって区画されていることを特徴とする光学的分析装置用測定チップ。

IPC (3)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/03 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01N 21/01 B ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 21/27 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-353747
  
• 特開平3-164195
  
• 特開平4-353747
  
• 特開平3-164195